A.1真空衰減泄漏測試是將供試包裝暴露于外部真空來進行的。施加到包裝的壓力差使氣體通過包裝上的泄漏通道釋出。如果包裝內(nèi)含有液體，真空度低于液體的汽化壓,也將使泄漏通道中或其附近的液體揮發(fā)。在一個測試周期中,由一只或多只壓力傳感器監(jiān)視測試腔中的壓力升高,是由于包裝內(nèi)頂空氣體和/或揮發(fā)液體通過包裝上的泄漏向外遷移加背景噪聲的結(jié)果所致。泄漏檢測需要真空衰減超過背景噪聲。背景噪聲衰減可能是因包裝暴露于真空下發(fā)生膨脹或測試腔內(nèi)或測試系統(tǒng)管路中存有微量氣體或水蒸氣所致。通過對測試腔的設計改進、調(diào)節(jié)壓力或時間參數(shù),或在供試樣品裝入測試腔前將測試腔暴露于真空中一段時間可使背景噪聲至最少。

A.2含透氣屏障蓋材的包裝可物理罩住或堵住包裝的透氣屏障表面,使得氣體通過透氣屏障材料釋出的量為最小后進行測試。透氣屏障蓋材上的缺陷不能被檢測,但密封區(qū)或托盤自身上的缺陷能被檢測。從透氣屏障蓋材包裝產(chǎn)生的真空衰減,可能包括來自蓋材與罩堵表面之間的氣體所形成的背景噪聲,或蓋材與托盤密封結(jié)合處所通過的橫向氣流。

A.3典型的測試循環(huán)是,先將供試包裝放入測試腔并罩住或堵住任何透氣屏障包裝表面。對閉合后的測試腔抽真空。在事先確定的時間段終點,使其達到初始日標真空,將測試腔與真空源隔離。經(jīng)歷一個短暫的平衡期后,在一個預先確定的測試時間內(nèi)監(jiān)測測試腔內(nèi)的真空度。對于許多包裝,從測試腔閉合到完成測試周期可能只需要幾秒鐘的時間。以下描述了測試周期的時間、壓力以及泄漏測試接受準則等各種臨界測試參數(shù)。圖A.1示出了預期的有各種泄漏測試不通過模式的典型測試周期。

 注:以下條文中所用的臨界試驗參數(shù)的術語可能與泄漏制造商用的術語不同,但定義保持一致。

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